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Lehrveranstaltungen
Die Fachgebiete im Forschungsschwerpunkt Technologien der Mikroperipherik ..
- Mikroelektronik - Aufbau- und Verbindungstechniken AVT
- Nano Interconnect Technologies NIT
- Werkstoffe der Hetero-Systemintegration WHS
- Transdisziplinäre Nachhaltigkeitsforschung in der Elektronik TNE
.. bieten Lehrveranstaltungen im Bereich der Mikrosystemtechnik und -elektronik an. Für die Lehre der TNE wenden Sie sich bitte an die separate Webseite des FG: www.tne.tu-berlin.de/menue/studium_und_lehre/
Coronavirus: Die aktuell angebotenen Kurs sind dem Verzeichnis (Moses) und den eingetragnen ISIS-Kursen zu entnehmen. Derzeit fallen keine Module Corona-bedingt aus. Die Vorlesungen finden ausschließlich online statt.
Für Studierende im Master bieten wir derzeit sechs Module an:
- Aufbau integrierter Elektroniksysteme (AIE)
- Herstellungstechnologien für Halbleitersensoren (HT)
- Design, Simulation and Test of Microsystems I und II (DSI / DSII)
- Umweltgerechtes Design elektronischer Systeme (UD)
- Zuverlässigkeit integrierter Elektroniksysteme (ZIE)
Des Weiteren laden wir alle Interessieten zum Seminar "Aufbau- und Verbindungstechnik" ins Gebäude TIB 17 (Fraunhofer IZM) ein. Im Semester findet das Seminar jeden Donnerstag um 15:30 Uhr statt.
LV-Titel | Art+ SWS | LV-Nr. | Modul | SS/ WS | Dozent(en) |
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Technologien der Systemintegration | VL 2 | 0431 L714 | AIE | WS | Schneider-Ramelow |
Werkstoffe der Systemintegration | VL 2 | 0431 L737 | AIE | SS | Schneider-Ramelow |
Herstellungstechnologien von Halbleitersensoren | VL 2 | 0430 L411 | HT | WS | Ngo |
Technologien und Werkstoffe der Mikrosystemtechnik | PR 4 | 0431 L911 | HT | WS | Mackowiak |
Design, Simulation and Test of Microsystems (I) | IV 6 | 0431 L712 | DS | SS | Köszegi |
Design, Simulation and Test of Microsystems (II) | IV 6 | 0431 L733 | DS | WS | Köszegi |
Umweltgerechtes Design elektronischer Systeme | VL 2 | 0431 L717 | UD | SS | Nissen / Middendorf |
Umweltgerechtes Design elektronischer Systeme | PR 2 | 0431 L718 | UD | SS | Nissen / Middendorf |
Zuverlässigkeit integrierter Elektroniksysteme | IV 2 | 0431 L720 | ZIE | SS | Wittler |